Sunum yükleniyor. Lütfen bekleyiniz

Sunum yükleniyor. Lütfen bekleyiniz

X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi.  X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak atomik ve moleküler bilgi sağlanması.

Benzer bir sunumlar


... konulu sunumlar: "X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi.  X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak atomik ve moleküler bilgi sağlanması."— Sunum transkripti:

1 X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi

2  X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak atomik ve moleküler bilgi sağlanması amacıyla kullanılan sayısal bir analiz tekniğidir. Çekirdek-seviyelerinin incelenmesi ve bunu takiben yayılan çekirdek fotoelektronların analiz edilmesiyle numune yüzeyinin bileşimi ve elektrostatik seviyesi hakkında bilgi verir.

3

4

5 · Numune yüzeyinde hangi elementler bulunuyor? · Bu elementlerin hangi seviyeleri mevcut? · Farklı seviyelerde bulunan farklı elementlerden ne kadar mevcut? · Malzemelerin üç boyuttaki dağılımı nedir? · Malzeme yüzeyde ince bir tabaka halinde mevcut ise, o Film kalınlığı nedir? o Film kalınlığı düzenli mi? o Filmin kimyasal bileşimi düzenli mi?

6  XPS tüm katı yüzeylerin elementel ve kimyasal hal bilgisinin analizi için kullanılabilir.  XPS sistemleri ile iyonik sıvılar da analiz edilebilmektedir.  10 nm’lik yüzey kalınlığında elementel ve kimyasal hal analizi yapabilirsiniz.

7

8  Fırlatılan elektronunun kinetik enerjisi numuneye gönderilen X-ışınlarının enerjisi ve elektronun bağlanma enerjisine bağlıdır.Elektron X-ışınlarından aldığı enerjinin bir kısmını bağlanma enerjisini yenmek için kullanır ve geriye kalan elektronun kinetik enerjisidir.Bağlanma enerjisi elektronun bağlandığı atomun ve bulunduğu orbitalin karakteristik bir değeridir.Bu değer örnek maddede bulunan elementin yükseltgenme sayısına ve elementin kimyasal çevresine bağlıdır.

9  Aynı elementin aynı seviyedeki bir elektronun farklı bağlanma değerleri olabilir.Bunun nedeni elektronun farklı çevrelerde,farklı bağlanma enerjisine sahip olmasındandır.Buna kimyasal kayma denir.

10 XPS ile Yüzey Analizi Bu teknikte ölçülecek numuneye, vakum ortamında monoenerjili X-ışınları gönderilerek uyarılması sağlanır. Bunun sonucunda örneğin yüzeyinden saçılan elektronların kinetik enerjileri bir elektron spektrometresi yardımıyla ölçülerek örnek hakkında nitel ve nicel analizler yapılır.

11 X-Işınları ile Yüzey Bombardıman Edilir Nasıl mı ?

12

13

14

15

16  Karakterize yapacağımız örnek üzerine, hızlandırılmıs bir x-ışını çarptığında çekirdeğe yakın olan tabakadan elektron fırlar.  Bu fırlayan fotoelektronun enerjisi kendisini olusturan hızlı elektronun veya x-ışını fotonunun enerjisine bağlıdır.  Netice itibariyle her atomun fotoelektronları kendine özgüdür.  Bu fotoelektronların enerjisinin belirlenmesi ile kalitatif veya kantitatif yüzey analizi yapma yöntemine “X- ışınları Fotoelektron Spektroskopisi” (XPS) denir.

17  XPS saf ve uygulamalı tüm bilim dallarında- bunun yanı sıra sorun giderme ve kalite güvence amaçlı- yaygın olarak kullanılmaktadır. En çok kullanılan uygulama alanları bazı ana başlıklar altında toplanabilir. · Metaller ve alaşımların yüzeylerinin mikroanalizi · Mineral yüzey çalışmaları · Polimer çalışmaları · Tıbbi amaçlı kullanılan malzemelerinin analizi · Çimento ve beton yüzeyleri çalışmaları · Temel atomik fizik çalışmaları İnsan derisi bileşiminin tayini

18  Havacılık ve Uzay  Otomotiv  Biyomedikal / biyoteknoloji  Yarı iletken, Polimer  Telekomünikasyon  Veri depolama  Savunma  Elektronik  Endüstriyel ürünler  Işıklandırma  Eczacılık  Fotonik, Ekran

19  Neslihan Ellialtıoğlu  Filiz Özdin  Duygu Korkmaz  Alev Bilimli  Sümeyye Feyza Özdemir

20


"X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi.  X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak atomik ve moleküler bilgi sağlanması." indir ppt

Benzer bir sunumlar


Google Reklamları